泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO測量原理

泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO測量原理

泰勒霍普森粗糙度儀測量原理
通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機(jī)動驅(qū)動裝置，確保行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測針劃過波峰和波谷時，高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動，然后將機(jī)械移動轉(zhuǎn)化為電子信號。電子信號將進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時計算表面粗糙度參數(shù)。

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)解決方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設(shè)、大學(xué)和其他研究實驗室和生產(chǎn)線,質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評估的幾何特征的材料,組件和結(jié)構(gòu)和理化性質(zhì),先進(jìn)制造技術(shù)的驅(qū)動精益求精。

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